Инфракрасная спектроскопия твердотельных систем пониженной размерности. Учебн. пос., 1-е изд.








Пособие посвящено описанию теоретических основ и методических подходов к исследованию систем пониженной размерности посредством инфракрасной спектроскопии. .Для студентов и аспирантов, специализирующихся в области физики полупроводников, оптики твердого тела и оптических методов исследования новых материалов, а также для дополнительного обучения в рамках физико-химических, материаловедческих специальностей и специализаций, связанных с оптическими методами анализа низкоразмерных структур.
Go to description and details| Publisher | Лань |
| Series | Учебники для вузов. Специальная литература |
| Pages | 248 |
| Language | Русский |
| ISBN | 978-5-8114-2378-1 |
Пособие посвящено описанию теоретических основ и методических подходов к исследованию систем пониженной размерности посредством инфракрасной спектроскопии. .Для студентов и аспирантов, специализирующихся в области физики полупроводников, оптики твердого тела и оптических методов исследования новых материалов, а также для дополнительного обучения в рамках физико-химических, материаловедческих специальностей и специализаций, связанных с оптическими методами анализа низкоразмерных структур.
| Publisher | Лань |
| Series | Учебники для вузов. Специальная литература |
| Pages | 248 |
| Language | Русский |
| ISBN | 978-5-8114-2378-1 |
| Cover | Твёрдый переплёт |
| Paper | Офсет |
| Illustrations | Черно-белые |
| Dimensions | 133 × 13 × 205 mm |
| Weight, g | 300 |