Дифракционный структурный анализ. Учебное пособие для СПО
В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме. В конце каждой главы приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. .Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. .Для студентов среднего профессионального образования.
Перейти к описанию и характеристикам| Издательство | Юрайт |
| Серия | Профессиональное образование. Юрайт |
| Год издания | 2019 |
| ISBN | 978-5-534-11822-3 |
| Вес, г | 510 |
В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме. В конце каждой главы приведены ко ...
| Издательство | Юрайт |
| Серия | Профессиональное образование. Юрайт |
| Год издания | 2019 |
| ISBN | 978-5-534-11822-3 |
| Вес, г | 510 |
