Инфракрасная спектроскопия твердотельных систем пониженной размерности. Учебн. пос., 1-е изд.



Пособие посвящено описанию теоретических основ и методических подходов к исследованию систем пониженной размерности посредством инфракрасной спектроскопии. .Для студентов и аспирантов, специализирующихся в области физики полупроводников, оптики твердого тела и оптических методов исследования новых материалов, а также для дополнительного обучения в рамках физико-химических, материаловедческих специальностей и специализаций, связанных с оптическими методами анализа низкоразмерных структур.
Перейти к описанию и характеристикамИздательство | Лань |
Серия | Учебники для вузов. Специальная литература |
Год издания | 2017 |
ISBN | 978-5-8114-2378-1 |
Вес, г | 350 |
Пособие посвящено описанию теоретических основ и методических подходов к исследованию систем пониженной размерности посредством инфракрасной спектроскопии. .Для студентов и аспирантов, специализирующихся в области физики полупроводников, оптики твердого тела и оптических методов исследования новых материалов, а также для дополнительного обучения в рамках физико-химических, материаловедческих специальностей и специализаций, связанных с оптическими методами анализа низкоразмерных структур.
Издательство | Лань |
Серия | Учебники для вузов. Специальная литература |
Год издания | 2017 |
ISBN | 978-5-8114-2378-1 |
Вес, г | 350 |