Микроскопия в материаловедении
Скоро
0 оценок
Рассмотрены микроскопические методы изучения структуры и свойств материалов (кристаллов, диэлектриков, полупроводников металлов, сплавов), используемых при производстве приборов электронной, электротехнической промышленности. Для студентов и аспирантов вузов физических и технических направлений – будущих инженеров, научных работников.
Перейти к описанию и характеристикам| Издательство | Инфра-Инженерия |
| Год издания | 2027 |
| Страниц | 92 |
| Язык | Русский |
| ISBN | 978-5-9729-3339-6 |
Отзывы
0
Нет отзывов
0
0
0
0
0
Описание и характеристики
Рассмотрены микроскопические методы изучения структуры и свойств материалов (кристаллов, диэлектриков, полупроводников металлов, сплавов), используемых при производстве приборов электронной, электротехнической промышленности. Для студентов и аспирантов вузов физических и технических направлений – будущих инженеров, научных работников.
| Издательство | Инфра-Инженерия |
| Год издания | 2027 |
| Страниц | 92 |
| Язык | Русский |
| ISBN | 978-5-9729-3339-6 |
| Обложка | Мягкий переплёт |
| Размеры | 148 × 6 × 208 mm |
| Вес, г | 126 |
$43.00
Ожидается
доставка в США
