Основы кристаллографии и дефекты кристаллического строения
Скоро
Изложены теоретические основы и методические указания по проведению практических занятий при изучениии дисциплины "Основы кристаллографии и дефекты кристаллического строения", выполняемых в форме сочетания теоретических учебных занятий в классе и изучения моделей дефектов кристаллической решетки.
Перейти к описанию и характеристикам| Издательство | Инфра-М |
| Серия | Высшее образование: Бакалавриат (СФУ) |
| Страниц | 146 |
| Язык | Русский |
| ISBN | 978-5-16-013386-7 |
Изложены теоретические основы и методические указания по проведению практических занятий при изучениии дисциплины "Основы кристаллографии и дефекты кристаллического строения", выполняемых в форме сочетания теоретических учебных занятий в классе и изучения моделей дефектов кристаллической решетки.
| Издательство | Инфра-М |
| Серия | Высшее образование: Бакалавриат (СФУ) |
| Страниц | 146 |
| Язык | Русский |
| ISBN | 978-5-16-013386-7 |
| Обложка | Твёрдый переплёт |
| Размеры | 145 × 10 × 215 mm |
| Вес, г | 238 |
